[1]
О. К. Гаришин, «Моделирование контактного режима работы атомно-силового микроскопа с учетом немеханических сил взаимодействия с поверхностью образца», ВМСС, т. 5, вып. 1, сс. 61–69, май 2012, doi: 10.7242/1999-6691/2012.5.1.8.